Precision Sapphire -ikkuna

Optic-well tarjoaa laajan valikoiman safiiriikkunoita paitsi kuluttajatuotteille ja teollisuusalueille.Toimitamme myös tarkkoja safiiriikkunoita laboratorioille, tutkimuslaitoksille ja tarkkuusoptisten instrumenttien valmistajalle.Precision Sapphire Windows -ostajallamme on paljon yhteistä pyyntöä.Tässä luetellaan joitain tärkeitä tietoja viitteellesi.

Pintalaatu:Yhdysvaltain armeijastandardin MIL-PRF-13830 mukaan pintavikojen koon osoittamiseen käytetään kahta numerosarjaa.Käytä esimerkiksi ensimmäistä 40/20 naarmujen koon rajoittamiseen ja jälkimmäistä kuoppien koon rajoittamiseen.Yleensä tarkkuussafiiri-ikkunat vaativat pinnanlaatua vähintään S/D 60/40

Pinnan tasaisuus:Pinnan tasaisuus viittaa substraatin makroskooppisen kuperuuden poikkeamaan standardimallipohjasta.Tasaisuus on indeksi, joka rajoittaa mitatun kohteen ja vakiomallin välisen muutoksen määrää ja jota käytetään mittaavien kohteiden muotovirheiden säätelyyn.

Käytämme litteäkideinterferometriaa tuotteidemme testaamiseen.Optisen litteän kiteen työpintaa käytetään heijastamaan ihanteellista tasoa, ja interferenssireunan kaarevuusastetta käytetään suoraan määrittämään mitatun pinnan tasaisuusvirhearvo.Mitatun kohteen ja vakiomallin väliin muodostuneiden interferenssirajojen määrä käytettäessä litteäkideinterferometriaa.Puolen aallonpituuden optinen polkuero muodostaa aukon, joten käytämme yleensä λ:ta ilmaisemaan optisten pintojen pinnan tasaisuutta.Paras mitä voimme tehdä λ/10 @633nm.

Rinnakkaisuus:Tarkoittaa kahden tasaisen pinnan välisiä kiiloja.Paras voi olla jopa 2 kaarisekunnissa.

Lisätietoja saat ottamalla yhteyttä myyjiimme.

Meillä on varastossa joitain tarkkuussafiiriikkunoita, tarkista seuraava luettelo ja ota meihin yhteyttä, jos haluat vain ostaa ne.